, /PRNewswire/ — Park Systems Corp., der weltweit führende Anbieter von Rasterkraftmikroskopie (AFM)-Lösungen, gab heute die Markteinführung des NX1 bekannt; ein kompaktes, leistungsstarkes AFM, das unter Umgebungsbedingungen Bilder mit atomarer Auflösung liefert. Das NX1 wurde in Zusammenarbeit mit Prof. Franz J. Giessibl von der Universität Regensburg entwickelt, einem der weltweit führenden Experten auf dem Gebiet der atomar auflösenden AFM-Mikroskopie, und bringt eine Klasse von Abbildungsleistung, die bisher nur in Ultrahochvakuum-Umgebungen möglich war, in die Reichweite von Forschungslabors weltweit.
Das NX1 basiert auf Orpheus II, einem von der Regensburger Arbeitsgruppe von Prof. Giessibl entwickelten Prototyp, der gezeigt hat, dass atomar aufgelöste Bilder unter Umgebungsbedingungen möglich sind. Park Systems hat dieses Konzept in ein vollständig realisiertes kommerzielles Produkt umgesetzt und dabei die bewährte Kernarchitektur des Orpheus II, einschließlich eines Kovar-Gehäuses für außergewöhnliche thermische Stabilität, mit der Präzisionsfertigung, der Produktzuverlässigkeit und dem globalen AFM-Engineering-Know-how von Park Systems kombiniert. Das Ergebnis ist ein Instrument, das ein um eine Größenordnung geringeres Grundrauschen als herkömmliche AFM-Systeme aufweist und damit die Bildgebung im atomaren Maßstab für den Laboralltag zugänglich macht.
„Das NX1 ist das Ergebnis der Kombination von Prof. Giessibls bahnbrechender Forschung mit der bewährten Fähigkeit von Park Systems, die weltweit fortschrittlichste Wissenschaft auf den Markt zu bringen”, so Dr. Sang–Joon Cho, geschäftsführender Vizepräsident und Leiter der Geschäftseinheit für Forschungsausrüstung bei Park Systems. „Gemeinsam haben wir etwas geschaffen, das keine der beiden Seiten allein hätte erreichen können: ein wirklich zuverlässiges, unterstützungsfähiges und zugängliches Instrument für Forscher weltweit. Dies ist die Art von Plattform, die neue Märkte schafft und gestaltet.”
Das NX1 ist sowohl auf Leistung als auch auf Alltagstauglichkeit ausgelegt. Es unterstützt Standard-Silizium-Cantilever sowie einen optionalen qPlus-Sensor (Quarz-Stimmgabel), der Schwingungsamplituden im Pikometerbereich und eine hohe Empfindlichkeit gegenüber Kräften im Nahbereich ermöglicht. Der Sondenwechsel wird durch ein vorjustiertes kinematisches Chipträgersystem vereinfacht, und ein integriertes optisches Mikroskop in Achsrichtung bietet während des gesamten Betriebs einen direkten Blick auf die Sonde und die Probe. Das System ist vollständig kompatibel mit der SmartScan™-Betriebssoftware und der SmartAnalysis™-Bildanalyseplattform von Park Systems.
„Orpheus II hat das Konzept bewiesen, aber es war ein Forschungsinstrument – nur für Experten”, sagt Prof. Franz J. Giessibl, Universität Regensburg. „Das Fachwissen von Park Systems war unerlässlich, um daraus ein zuverlässiges Produkt zu machen, das die breitere Forschungsgemeinschaft nutzen kann. Das NX1 verkörpert genau das, wozu diese Idee schon immer das Potenzial hatte.”
Das NX1 kann ab sofort bestellt werden. Technische Spezifikationen und Anwendungsdaten finden Sie unter https://www.parksystems.com/en/products/research-afm/small-sample-afm/nx1 .
INFORMATIONEN ZU PARK SYSTEMS
Park Systems ist weltweit führend in der Nanometrologie und bietet fortschrittliche Messlösungen für Forschung und industrielle Anwendungen. Mit regionalen Niederlassungen in Nord- und Südamerika, Europa und Asien unterstützt das Unternehmen Kunden in den Bereichen Halbleiterfertigung, Materialwissenschaften und Nanotechnologieforschung.
Das Technologieportfolio von Park Systems umfasst Rasterkraftmikroskopie (AFM), bildgebende spektroskopische Ellipsometrie, digitale holografische Mikroskopie, Weißlichtinterferometrie sowie aktive Schwingungsisolationssysteme.
Das Unternehmen wurde von Dr. Sang-il Park gegründet, einem Mitentwickler der AFM an der Stanford University, und hat sich durch kontinuierliche Innovation und strategische Übernahmen – darunter die Accurion GmbH und Lyncée Tec SA – zu einer führenden Kraft in der globalen Nanometrologie-Branche entwickelt.
Weitere Informationen finden Sie unter www.parksystems.com
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